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當前位置:首頁(yè)產(chǎn)品中心其他設備AMC監測阿瑞斯-μVOCAMC空氣分子污染物VOC監測系統

AMC空氣分子污染物VOC監測系統
產(chǎn)品簡(jiǎn)介

AMC空氣分子污染物VOC監測系統對于高科技生產(chǎn)過(guò)程是關(guān)鍵性因素,特別是微電子行業(yè),有機污染物是生產(chǎn)過(guò)程中的消極因素,會(huì )導致高科技公司因產(chǎn)品質(zhì)量問(wèn)題而產(chǎn)生的成本增加。

產(chǎn)品型號:阿瑞斯-μVOC
更新時(shí)間:2024-08-28
廠(chǎng)商性質(zhì):經(jīng)銷(xiāo)商
訪(fǎng)問(wèn)量:1576
品牌杜克泰克產(chǎn)地國產(chǎn)

AMC空氣分子污染物VOC監測系統

獵戶(hù)座3100系統:完善的空氣分子污染物(AMC)監測

實(shí)時(shí)監測空氣分子污染(AMC )對于半導體生產(chǎn)過(guò)程極為重要。

快速監測、報警、極低濃度測量、寬測量區域、多氣體的高靈敏響應等是半導體工業(yè)要求之一。深紫外光刻工藝特別關(guān)注氨、胺類(lèi)、N-甲基毗咯烷酮NMP、酸類(lèi)等濃度測量,當這些氣體與化學(xué)放大光刻膠反生反應 時(shí),將深深的影響半導體器件質(zhì)量。

傳統古老的方法多采用間接測量分析方法。包括撞擊濾塵器、離子色譜、化學(xué)熒光法,這些方法分析速度太慢,操作過(guò)程太復雜,昂貴并且測量結果不精確。

 

AMC空氣分子污染物VOC監測系統

CEAS (腔增強吸收光譜)---原理

基于CEAS(腔增強吸收光譜)技術(shù)的儀器原理圖,使用近紅外波段光進(jìn)行高靈敏度吸收測量,測量腔室由一組高反射率多次反射鏡片組成的柱狀體構成,激光束經(jīng)過(guò)固態(tài)校準器(FSR=2.00GHz)時(shí)會(huì )測量得到相對激光波長(cháng)。為了保證清晰度,忽略了原本照射到左側測量單元腔鏡外的光束。

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EP增強型版本集成了壓力傳感器和內部溫度控制器,具有超穩定性測量腔室,防止溫度漂移、壓力變化等造成的誤差。

       CEAS(腔增強吸收光譜)相比于第一代的CRDS(腔衰蕩光譜)技術(shù),有許多已被證明的優(yōu)勢。簡(jiǎn)而言之,激光束不需要 共振耦合進(jìn)入測量腔室(例如光束不需要嚴格對準)。DUKE分析儀器和系統具有天生安裝簡(jiǎn)單、機械牢固、防護結實(shí)等特點(diǎn)。

 

 

 

 

 

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